優(yōu)爾鴻信可靠性實(shí)驗(yàn)室擁有多種型號的高低溫試驗(yàn)箱，如0.5m3、1m3、2m3、12m3等不同容量，可開展高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫濕度循環(huán)試驗(yàn)、高低溫存儲試驗(yàn)等環(huán)境可靠性測試。

高溫可靠性測試

高溫試驗(yàn)是將試樣暴露在高溫環(huán)境中進(jìn)行的試驗(yàn)，旨在考察高溫負(fù)載對試樣的影響，確定試樣在高溫負(fù)載條件下工作的適應(yīng)性。這種試驗(yàn)對于評估產(chǎn)品在長時(shí)間高溫條件下的性能和可靠性具有重要意義。

高溫試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)

高溫試驗(yàn)的主要技術(shù)指標(biāo)包括：

溫度：試驗(yàn)時(shí)的溫度值或溫度范圍。

時(shí)間：試驗(yàn)持續(xù)的時(shí)間。

溫度上升速率：試驗(yàn)溫度上升的速度。

高溫試驗(yàn)的應(yīng)用

高溫試驗(yàn)廣泛應(yīng)用于機(jī)械工程、實(shí)驗(yàn)室儀器和裝置、氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備等領(lǐng)域. 它不僅限于電子電氣產(chǎn)品，還包括汽車、航空航天、橡膠、塑料、金屬等多種材料和產(chǎn)品的測試. 通過高溫試驗(yàn)，可以評估材料在高溫下的物理和化學(xué)性能（如熱膨脹系數(shù)、熱導(dǎo)率、耐熱性等）、機(jī)械性能（如強(qiáng)度、硬度和韌性）以及電子產(chǎn)品在高溫環(huán)境中的工作性能和壽命.

高溫可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)

高溫試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)包括但不限于：

GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》

GB/T 2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》

GB/T 2423.2，IEC 60068-2-2

GJB 150.3A-2009《裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)》

高溫試驗(yàn)對產(chǎn)品的影響

高溫環(huán)境可能導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部的填充物和密封條軟化或融化，殺菌劑粘度減少，電子電路穩(wěn)定性上升導(dǎo)致絕緣損毀，高分子材料和絕緣材料快速老化等。

高溫試驗(yàn)是一種重要的可靠性試驗(yàn)方法，對于評估產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的性能和可靠性具有重要意義。廣泛應(yīng)用于電子元器件、材料、機(jī)械設(shè)備等各類產(chǎn)品的質(zhì)量控制和壽命預(yù)測中。通過模擬高溫環(huán)境，可以評估產(chǎn)品在長時(shí)間高溫條件下的性能和可靠性，為產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制提供有力支持。